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    • 透射電鏡高溫力學原位系統通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、熱復合多場自動控制及反饋測量系統,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。

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      產品價格:面議
      廠商性質:生產廠家
      更新日期:2023-08-29
    • 透射電鏡雙傾探針電學原位系統通過納米探針對樣品施加電場控制,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨電場變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。

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      廠商性質:生產廠家
      更新日期:2023-08-29
    • 透射電鏡力電原位系統通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。

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      廠商性質:生產廠家
      更新日期:2023-08-29
    • 透射電鏡高溫力電原位系統通過MEMS芯片對樣品施加力學、電場、熱場控制,在原位樣品臺內構建力、電、熱復合多場自動控制及反饋測量系統,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度、電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。

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      更新日期:2023-08-29
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