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    • 透射電鏡雙傾熱電原位系統通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建熱、電復合多場自動控制及反饋測量系統,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米甚至原子層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度、電場變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。

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      產品價格:面議
      廠商性質:生產廠家
      更新日期:2023-08-29
    • 透射電鏡高傾角熱電原位系統通過MEMS芯片對樣品施加熱場、電場控制,在高傾角樣品臺內構建熱電復合多場自動控制及反饋測量系統,結合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米甚至原子層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度、電場變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。

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      產品價格:面議
      廠商性質:生產廠家
      更新日期:2023-08-29
    • 透射電鏡雙傾光熱原位系統通過MEMS芯片和光纖引入的光源在原位樣品臺內構建熱、光復合多場自動控制及反饋測量系統,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米甚至原子層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度、光場變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。

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      產品價格:面議
      廠商性質:生產廠家
      更新日期:2023-10-30
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