透射電鏡雙傾探針電學原位系統

簡要描述:透射電鏡雙傾探針電學原位系統通過納米探針對樣品施加電場控制,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨電場變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-12-27
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詳細介紹

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我們的優勢

納米探針操縱系統

1.高精度壓電陶瓷驅動,納米級別精度數字化精確定位。

2.可對單個納米結構進行操縱和電學測量。


優異的電學性能

特殊設計保證電學測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達皮安級。


智能化軟件

1.人機分離,軟件遠程調節電學條件,程序自動化控制傾轉角度。

2.全程自動記錄實驗細節數據,便于總結與回顧。




技術參數

類別項目參數
基本參數桿體材質高強度鈦合金
控制方式高精度壓電陶瓷
傾轉角α≥±20°,β≥±20°(實際范圍取決于透射電鏡和極靴型號)
適用電鏡Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
適用極靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持



























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