透射電鏡全角度三維重構樣品桿

簡要描述:透射電鏡全角度三維重構樣品桿在搭載直徑3 mm銅網的傳統三維重構樣品臺的基礎上延伸,采用彈頭的單軸旋轉方式進行繞樣品臺全角度360°觀察,可以接受棒狀或圓錐形樣品。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-12-27
  • 訪  問  量: 2780

詳細介紹


TEM其它-全角度三維重構.png

CHIPNOVA Single-tilt Tomography Holders(全角度三維重構樣品桿)在普通三維重構樣品桿的基礎上升級而來,采用圓錐形單軸360°旋轉方式,全角度得到樣品更多二維成像信息,避免鍥形信息丟失。



我們的優勢

創新設計

1.高強度鈦合金特殊結構設計,高精度加工,經久耐用。

2.C型針尖創新結構設計,保證銅網穩定性,不會對EDS分析造成干擾。

3.可替換式針尖,方便同一樣品在TEM、FIB、AP等多平臺轉移,獲取更全面信息。


高質量成像

1.單軸針尖可360°高精度旋轉,獲取更多二維成像信息,避免鍥形信息丟失。

2.C型針尖為3mmHalf-Grid設計,α角最大旋轉角度為±90°,避免樣品陰影,提供高質量層析成像數據。



技術參數

類別項目參數
基本參數桿體材質高強度鈦合金
樣品直徑棒狀、圓錐形、3mm Half-Grid
漂移率<0.5 nm/min(穩定狀態)
分辨率電鏡極限分辨率
兼容電鏡Thermo Fisher/FEI,JEOL,Hitachi
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持




   







應用案例

電子斷層掃描對納米尺度地質材料的三維分析

參考文獻來源:Three-dimensional Analyses of Geological Materials on Nanoscale by Electron Tomography[J]. Atomic Spectroscopy, 2022.

<a class=


最大傾斜角度為±54°、間隔為6°的一系列傾斜圖像重建結果。


638259658486059471187.jpg


同一樣品的元素和氧化態重構模型的3D視圖。












產品咨詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
微信掃一掃
版權所有©2024 廈門超新芯科技有限公司 All Rights Reserved    備案號:閩ICP備19013696號-2    sitemap.xml    管理登陸    技術支持:化工儀器網    
丰满熟妇人妻Av无码区,在线精品视频一区二区三四,国产成人久久精品77777综合,国产精品女同一区二区